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產(chǎn)品中心專用儀器儀表DP-SB120/2型四探針樣品測試平臺(tái)/樣品測試平臺(tái)
四探針樣品測試平臺(tái)/樣品測試平臺(tái)
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類四探針樣品測試平臺(tái)/樣品測試平臺(tái) 型號(hào)：DP-SB120/2型
DP-SB120/2型四探針樣品測試平臺(tái)是DP-SB120/1測試平臺(tái)的改型。其有底座、支架、旋動(dòng)件、樣品平臺(tái)、四探針及接線板等組成。由于其整個(gè)結(jié)構(gòu)及旋動(dòng)方式都在原DP-SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改，故在校的物理實(shí)驗(yàn)及科學(xué)研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。
線圈平臺(tái)/亞歐德鵬線圈平臺(tái) 型號(hào)：DP-SB120
線圈平臺(tái)可用于校的物理教育實(shí)驗(yàn)。
其中：DP-SB120線圈平臺(tái)及DP-SB120/1樣品平臺(tái)可分別對(duì)磁電阻薄膜的磁電阻及導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率行測試及研究。
該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)由帶360o刻度的底盤，安裝在底盤內(nèi)可旋轉(zhuǎn)360o的襯盤，安裝在底盤上的樣品平臺(tái)（低可調(diào)）以及安裝在樣品平臺(tái)上的四探針等組成DP-SB100/1樣品平臺(tái)。
DP-SB120線圈平臺(tái)主要增加了二個(gè)相型的亥姆霍茲磁場線圈，分別安置在樣品平臺(tái)的兩側(cè)，且固定在可旋轉(zhuǎn)360o的襯盤兩邊上，樣品平臺(tái)位于磁場的中心，在其通電0-60V/5A的情況下，可確保產(chǎn)生磁場0-150奧斯特。
該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)為被測樣品在磁場及非磁場情況下，對(duì)其的測試研究提供了方便。
四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀 型號(hào)：DP-SB100A/20A
DP-SB100A/20A是DP-SB100A/20的升級(jí)版，其為用戶提供了使用DP-SB100A/20行四探針測試及實(shí)驗(yàn)的配套軟件，可運(yùn)行于PC機(jī)上，能兼容運(yùn)行在Winxp和Win7系統(tǒng)中，用于自動(dòng)獲取實(shí)驗(yàn)臺(tái)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，并根據(jù)條件生成曲線和報(bào)表，輔助實(shí)驗(yàn)人員自動(dòng)成實(shí)驗(yàn)，直觀的分析數(shù)據(jù)，獲得實(shí)驗(yàn)結(jié)論，保存實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-6—106Ω。
該測量儀由DP-SB118/20型電壓電流源，DP-PZ158A型直流數(shù)字電壓表，DP-SB120/2四探針樣品測試平臺(tái)及1臺(tái)電腦（選購），并附有配套的軟件系統(tǒng)等組成。產(chǎn)品的硬件詳情可參見DP-SB100A/20及相應(yīng)產(chǎn)品的介紹 。
該產(chǎn)品的軟件系統(tǒng)為用戶提供參數(shù)設(shè)置、實(shí)驗(yàn)流程、實(shí)驗(yàn)方式、數(shù)據(jù)分析、曲線報(bào)表，并在后臺(tái)數(shù)據(jù)庫中行長期保存，實(shí)驗(yàn)人員可以查詢以前的何次實(shí)驗(yàn)的結(jié)果、所有的曲線和報(bào)表都可提供打印能。
DP-SB118/20型直流電壓電流源 （帶RS232C接口，詳見該產(chǎn)品使用說明書）
l 直流電壓源：輸出電壓范圍 0~50V 分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續(xù)調(diào)節(jié)，zui分辨力為1μV，基本誤差為0.1%。
l 直流電流源：輸出電流范圍 0~200mA 分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五檔，每檔輸出電流可連續(xù)調(diào)節(jié)，zui分辨力為1nA，基本誤差為0.03%。
l 儀器后面板配有二個(gè)RS232C接口,，個(gè)為DP-PZ158A/RS232C接口連接至DP-PZ158A，另個(gè)為PC/RS232C接口連接至PC機(jī)上，可利用PC機(jī)上的“終端"獲得儀器的測量數(shù)據(jù)。
DP-PZ158A型數(shù)字電壓表（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
可測量0~1000V直流電壓 具有200mV、2V、20V、200V、1000V五檔量程，zui分辨力為0.1μV，基本誤差為0.003%。
DP-SB120/2四探針樣品平臺(tái)（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導(dǎo)體/半導(dǎo)體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。
四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測量儀 型號(hào)：DP-SB100A/3型
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜谛Ｎ锢斫逃龑?shí)驗(yàn)，對(duì)導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-5—106Ω。
DP-SB100A/3型四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測量儀是由DP-SB118/1型電壓電流源以及DP-SB120/2四探針樣品平臺(tái)二臺(tái)儀器構(gòu)成。
l DP-SB118型直流電壓電流源 （詳見該產(chǎn)品使用說明書）
直流電流源
a) 電流輸出范圍：1nA~200mA，輸出電壓不小于5V；
b) 量程：分五檔，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；
c) 電流輸出的基本誤差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS。
直流電壓源
a) 電壓輸出范圍：5μV~50V，負(fù)載電流不小于10mA（20mV以上）；
b) 量程：分五檔，20mV、200mV、2V、20V、50V，每檔均有粗調(diào)和細(xì)調(diào)；
c) 電壓輸出的基本誤差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。
數(shù)字電壓表（4?LED）利用電壓源分“取樣"端可對(duì)被測電壓行測試
a) 測量量程 20mV，200mV，2V，20V，200V
b) zui分辨力 可達(dá)1μV
c) 基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS （20±2oC）
l DP-SB120/2四探針樣品平臺(tái)（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導(dǎo)體/半導(dǎo)體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。
注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對(duì)應(yīng)的
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