掌上型光時(shí)域反射計(jì)   型號；DP-AV6416

DP-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)是針對FTTx而的測試儀器。該產(chǎn)品主要用于測量光纖光纜的長度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性，并能對光纖線路中的事件點(diǎn)、故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。廣泛應(yīng)用于光纖通信系統(tǒng)的程施、維護(hù)測試及緊急搶修；光纖光纜的研制與測試等。
　　DP-AV6416外觀結(jié)構(gòu)采用業(yè)界zui為的雙色雙料體化模具藝，外觀新穎亮麗、堅(jiān)固耐用、操作非常方便，采用防反射LCD顯示，使得野外環(huán)境下操作界面清晰可見，整機(jī)采用雙路供電方式，大容量鋰電池使整機(jī)的作時(shí)間長達(dá)10小時(shí)以上，該產(chǎn)品具有兩種USB接口形式，既可接入U(xiǎn)盤，也能通過USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)通信。同時(shí)，為方便操作人員攜帶方便，該產(chǎn)品采用了更人性化的，為儀器配備了舒適的背帶。

主要特點(diǎn)：
　　● 掌上型、重量輕、便于攜帶
　　● 業(yè)界zuijin的雙色雙料體化防濺式模具藝，堅(jiān)固耐用
　　● 防反射LCD，野外環(huán)境下顯示界面清晰可見
　　● 1.6m短事件盲區(qū)，測試光纖跳線輕松自如 
　　● 具有自動及手動測試能
　　● 雙USB接口能，既可外接U盤，也能通過SyncActive軟件與PC機(jī)通信
　　● 支持Bellcore GR196文件格式
　　● 電池電量示及電池低電壓告警能
　　● WinCE視窗操作系統(tǒng)，中英文操作界面
　　● 10小時(shí)長電池續(xù)航時(shí)間，適于長時(shí)間野外施
　　● VFL可視故障定位能
　　● OTDR光輸出頭采用可更換方式，端面清潔更加方便


● 短事件盲區(qū) 
　　DP-AV6416具有短的事件盲區(qū)，尤其適于對短的光纖鏈路或光纖跳線的測試。


● 快速自動測試
　　DP-AV6416的自動測試能使得用戶無需了解更多的有關(guān)該儀器操作的細(xì)節(jié)，測試步驟變得非常簡單，只需要接入光纖、點(diǎn)擊【測試】按鈕即可，儀器會自動設(shè)置*測試條件并zui終給出準(zhǔn)確的測試結(jié)果，如測試曲線和事件列表等。


● 快速曲線分析
　　DP-AV6416能夠快速準(zhǔn)確地查找出測試曲線中的事件點(diǎn)或故障點(diǎn)及其位置信息，并以事件表的形式列出線路中所有的事件信息，這對線路維護(hù)人員非常有用，既提測試效率，又無需了解煩瑣的背景知識。

曲線分析及事件列表

● *的文件管理
　　DP-AV6416具有強(qiáng)大的文件管理能，除了能對機(jī)內(nèi)或U盤的文件行存儲、瀏覽、刪除外，還能夠外接基于PCL語言的激光打印機(jī)或噴墨打印機(jī)，以便打印測試報(bào)表。除此之外，AV6416還可借助SyncActiveSync軟件通過USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)速通信。

文件管理及數(shù)據(jù)傳輸

● 便利的VFL能
　　借助DP-AV6416的可視紅光故障(VFL)能可以非常方便、快捷地發(fā)現(xiàn)短距離光纖鏈路中斷點(diǎn)或大的損耗點(diǎn)位置，以便維護(hù)人員及時(shí)采取措施，節(jié)省時(shí)間。

● 典型應(yīng)用

　　DP-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)主要用于對FTTx網(wǎng)路的測試。該產(chǎn)品為用戶提供了種低成本的測試方案，具有手動測試(實(shí)時(shí)測試、平均測試)、自動測試和盲區(qū)測試3種模式。
手動測試模式：該測試模式適于那些對該儀器了解的熟練操作者，因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測試結(jié)果。在手動測試模式中，用戶可根據(jù)測試需要選擇實(shí)時(shí)測試模式或平均測試模式。
　　實(shí)時(shí)測試可快速檢測光纖鏈路的動態(tài)變化，應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測或觀察光纖鏈路的對接過程及效果。
　　平均測試模式可以盡zui大可能地抑制測試曲線中的噪聲，從而得到更加的測試結(jié)果。在平均測試模式中，平均次數(shù)越大，則對噪聲的抑制效果越好，但測試時(shí)間也相應(yīng)的加長，因此，在實(shí)際使用中，可根據(jù)需要靈活設(shè)置平均次數(shù)。
自動測試模式：該模式下，儀器能夠自動設(shè)置*測試條件，并給出測試結(jié)果，無需操作者了解復(fù)雜的背景知識和有關(guān)儀器操作的細(xì)節(jié)。為了提自動測試的度，可以適當(dāng)加大自動測試時(shí)的平均次數(shù)，但將延長自動測試的時(shí)間。
盲區(qū)測試模式：該模式適用于對短距離光纖的測試，如測試光纖跳線的長度等，在該模式下，如希望儀器獲得的測試結(jié)果，要求被測光纖末端的反射損耗(或稱回波損耗)大于40dB。

● 規(guī)范

　　注：1. 環(huán)境溫度23℃±2℃，zui大測試脈沖寬度，平均次數(shù)大于300。
　　　　2. 盲區(qū)測試模式(量程4km、脈寬10ns、衰減10dB)，光纖端面反射損耗≥40dB，典型值。
　　　　3. 低亮度、不測試。

● 訂貨信息
　　主機(jī)：DP-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)
　　標(biāo)配：

　　標(biāo)準(zhǔn)模塊：DP-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)可選購的模塊如下表

　　選件：